常應(yīng)用于電子元器件,電子線路板等環(huán)境試驗(yàn),本試驗(yàn)設(shè)備符合《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范Ea:沖擊試驗(yàn)方法》及《IEC
產(chǎn)品特點(diǎn)
本試驗(yàn)臺(tái)面尺寸較小,臺(tái)面結(jié)構(gòu)經(jīng)過有限元優(yōu)化分析后精心設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)強(qiáng)度大,頻率響應(yīng)高,通過高加速度沖擊試驗(yàn),能達(dá)到0.3ms的加速度持續(xù)時(shí)間,沖擊半正弦波形符合試驗(yàn)規(guī)范。
內(nèi)置防二次沖擊裝置,臺(tái)體配置高效減振裝置,沖擊高度數(shù)字設(shè)定,自動(dòng)執(zhí)行。
符合標(biāo)準(zhǔn):GJB150、GJB360、GB2423的要求。
技術(shù)參術(shù):
*大負(fù)載:10kg
臺(tái)面尺寸:250mm×250mm
沖擊峰值加速度范圍:半正弦波:150~5000m/s2
脈沖持續(xù)時(shí)間:半正弦波:0.5~20ms
沖擊波形:半正弦波形
速度變化量容差為:±15%
沖擊臺(tái)臺(tái)體外形尺寸:(1000×750×2400)(mm)
沖擊臺(tái)體重量:1500kg
消耗功率:1KVA
工作條件:電源電壓: 220V±10% AC50Hz